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正元產品 | ZYG-6000激光氣體分析儀能為你解決那些問題？

日期：2020-07-02   瀏覽：1499

      ZYG-6000激光氣體分析儀采用的是半導體激光光譜吸收技術，也叫TDLAS技術，其是一種高分辨率的光譜吸收技術。半導體激光穿過被測氣體的光強衰減可用朗伯-比爾（Lambert-Beer）定律表述式中，IV0和IV分別表示頻率V的激光入射時和經過壓力P，濃度X和光程L的氣體后的光強；S（T）表示氣體吸收譜線的強度；線性函數g（V-V0）表示該吸收譜線的形狀。因此，半導體激光氣體分析儀是通過測量氣體對激光的衰減來測量氣體的濃度。

 

       激光過程氣體分析系統(tǒng)基于半導體激光吸收光譜技術（TDLAS），即“單線光譜”測量技術。系統(tǒng)采用可調制的半導體激光器為發(fā)光光源，通過調制半導體激光器的工作電流強度來調制激光頻率，使激光掃描范圍略大于被測氣體的單吸收譜線。從而使半導體激光器發(fā)射的特定波長的激光束在穿過測量管時，被被測氣體選頻吸收，從而導致激光強度產生衰減。于是系統(tǒng)利用不同氣體成分均有不同的特征吸收譜線及氣體濃度和紅外或激光吸收光譜之間存在的 Beer-Lambert 關系，通過檢測吸收譜線的吸收大小（即激光強度衰減信息）就可以獲得被測氣體的濃度。但不同的是，傳統(tǒng)非分光紅外分析技術使用譜寬很寬且固定波長的紅外光源，而 DLAS 技術使用譜寬較小(也就是單色性較好)  且波長可調諧的半導體激光器作為光源。因此，TDLAS技術具有傳統(tǒng)非分光紅外分析技術無法實現的一些性能優(yōu)點。

       半導體激光器發(fā)射的激光譜寬小于 0.0001nm，是紅外光源譜寬的 1/106，遠小于紅外光源譜寬和被測氣體單吸收譜線寬度，其頻率調制掃描范圍也僅包含被測氣體單吸收譜線（半導體激光吸收光譜技術也因此被稱為單線光譜技術），因此成功消除了背景氣體交叉干擾影響。不受被測氣體環(huán)境參數變化干擾被測氣體環(huán)境參數—溫度或壓力變化通常導致譜線強度和展寬發(fā)生變化，對溫度或壓力信號不加修正就會影響測量結果。而TDLAS技術是對被測氣體單一吸收譜線進行分析，因此可較容易地對溫度、壓力效應進行修正。為此系統(tǒng)內置了溫度和壓力自動修正功能，能根據實際測量得到的被測氣體溫度和壓力對氣體成分測量值進行自動修正，從而可實現精確的在線氣體分析。

       綜上所述，單線光譜技術、激光波長掃描技術和環(huán)境參數自動修正技術使 TDLAS 技術可以被用于實現氣體的在線分析，因此比非分光紅外等傳統(tǒng)采樣氣體分析系統(tǒng)具備更強的環(huán)境適應性。
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技術特征
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產品特征
 
 
 

 

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正元服務

 

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